सेमीकंडक्टर पैरामीटर विश्लेषक (डिवाइस विश्लेषक) एक परीक्षण उपकरण है जो वर्तमान and वोल्टेज (IV) और कैपेसिटेंस माप (CV (कैपेसिटेंस वोल्टेज), C (f (कैपेसिटिव आवृत्ति) और C‐ करने के लिए कई माप और विश्लेषण क्षमताओं को एकीकृत करता है। t (कैपेसिटेंस-टाइम)) सही माप करता है और जो सेमीकंडक्टर पैरामीट्रिक टेस्ट के लिए एक बॉक्स में जल्दी और आसानी से विश्लेषण करता है। सेमीकंडक्टर डिवाइस की विशेषताओं और इसकी निर्माण प्रक्रिया को निर्धारित करने के लिए सेमीकंडक्टर पैरामीट्रिक परीक्षण एक मौलिक माप है। पैरामीट्रिक परीक्षण में, आमतौर पर IV मापन जिसमें एफए (फीमेलो amp) रिज़ॉल्यूशन के लिए निम्न down वर्तमान माप और 1 मेगाहर्ट्ज तक सीवी माप शामिल हैं, और प्रमुख विशेषताओं / मापदंडों का विश्लेषण किया जाता है। यद्यपि सेमीकंडक्टर पैरामीटर विश्लेषक मूल रूप से उन सेमीकंडक्टर मूल्यांकन करने के लिए डिज़ाइन किया गया है, वर्तमान में इसका उपयोग विभिन्न सामग्रियों, उपकरणों और इलेक्ट्रॉनिक्स के IV और CV लक्षण वर्णन के लिए किया जाता है, क्योंकि इसके बेहतर प्रदर्शन, शक्तिशाली क्षमताओं और उपयोग में आसानी के कारण व्यापक रूप से।
सेमीकंडक्टर पैरामीटर विश्लेषक का उपयोग करने के लिए लाभ
सेमीकंडक्टर पैरामीटर विश्लेषक आपके लक्षण वर्णन कार्यों के लिए बेहतर प्रदर्शन, उपयोगिता और दक्षता प्रदान करता है। पैरामीटर विश्लेषक एक बॉक्स में कई माप संसाधनों को एकीकृत करता है, और यह कई उपकरणों जैसे कि बिजली की आपूर्ति, वोल्टेज मीटर, वर्तमान मीटर, LCR मीटर, स्विचिंग मैट्रिक्स, आदि को इकट्ठा करने और एकीकृत करने के बिना IV और CV माप को आसानी से सक्षम करता है। पैरामीटर विश्लेषक एक स्रोत / माप इकाई (SMU) है। SMU एक मापक मॉड्यूल है जो किसी वोल्टेज / करंट सोर्स की क्षमताओं और एक मॉड्यूल में एक वोल्टेज / करंट मीटर को जोड़ती है। क्योंकि स्रोत और माप सर्किटरी बारीकी से एकीकृत है, आप एक ही माप बनाने के लिए विभिन्न स्वतंत्र उपकरणों का उपयोग करने की तुलना में कम माप त्रुटि के साथ बेहतर सटीकता और उच्च रिज़ॉल्यूशन प्राप्त कर सकते हैं।
इसके अलावा, पैरामीटर विश्लेषक विश्लेषण क्षमता को प्रस्तुत करता है, और आप बाहरी पीसी के बिना स्क्रीन पर माप परिणाम को जल्दी और अंतःक्रियात्मक रूप से जांच और विश्लेषण कर सकते हैं। अर्धचालक पैरामीटर विश्लेषक की बहुमुखी प्रतिभा का उपयोग विभिन्न मापन स्थितियों के लिए खोजपूर्ण विश्लेषण से स्वचालित परीक्षण तक किया जा सकता है।
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