यह घटकों में अल्ट्रा-लो लीकेज करंट, ऑप्टिकल उपकरणों में डार्क करंट और सूक्ष्म उपकरणों में बीम करंट को माप सकता है।
बहुत कम स्रोत वोल्टेज वाले सर्किट में भी उच्च-सटीक वर्तमान माप संभव है।
मल्टी-चैनल उपकरणों के विश्लेषण, सामग्री पर कई स्थानों पर निगरानी धाराओं और एक साथ कई सेंसर से डेटा रिकॉर्डिंग की प्रक्रिया को सरल करता है।
सुनिश्चित करें कि आप एक वोल्टेज पूर्वाग्रह फ़ंक्शन पा सकते हैं जो आपकी एप्लिकेशन आवश्यकताओं के अनुरूप है। 500 वी स्रोत के साथ 6487 पिकोमेटमीटर / वोल्टेज स्रोत में इन्सुलेशन प्रतिरोध परीक्षण।
सिग्नल प्रतिक्रिया और प्रवृत्ति विश्लेषण के लिए डिजिटल मल्टीमीटर, डेटा अधिग्रहण कार्ड, ऑसिलोस्कोप, या स्ट्रिप चार्ट रिकॉर्डर जैसे उपकरणों के लिए माप परिणामों के प्रसारण की अनुमति देता है।
उच्च धारा को मापने का समर्थन, जैसे कि 4-20mA सेंसर सर्किट को मापना।
उच्च थ्रूपुट उत्पादन परीक्षण आवश्यकताओं का समर्थन करें।
यह सिस्टम में सभी उपकरणों को सीधे और सीधे नियंत्रित करने के लिए एकल कनेक्टर पर छह स्वतंत्र रूप से चयन करने योग्य ट्रिगर लाइनों को जोड़कर अन्य उपकरणों और वोल्टेज स्रोतों के साथ सिंक्रनाइज़ करने की प्रक्रिया को सरल करता है।