वक्र ट्रेसर और पावर डिवाइस विश्लेषक

• प्रयुक्त वक्र ट्रेसर Tektronix 370 A

  टेक्ट्रोनिक्स 370 ए कर्व ट्रेसर हाई रेजोल्यूशन कर्व ट्रैक्टर्स के लिए विश्व मानक है और इसका उपयोग विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों में किया जाता है।

• प्रयुक्त वक्र ट्रेसर Tektronix 370 B

  टेक्ट्रोनिक्स 370 बी कर्व ट्रेसर हाई रेजोल्यूशन कर्व ट्रेसर के लिए विश्व मानक है। Tek 370 B, 20 A / 2000 वी प्रदान करता है, जो 1 pA और 50 resolutionV माप रिज़ॉल्यूशन के साथ संयुक्त है।

• प्रयुक्त मध्यम शक्ति स्रोत उपाय इकाई कीथले 4200-SMU

  मध्यम विद्युत स्रोत उपाय इकाई (SMU)

• प्रयुक्त परीक्षण बीएनसी 1M फुर्तीला 16048A सुराग

  कीसाइट 16048A (फुर्तीला) परीक्षण लीड 4 टर्मिनल-पेयर विन्यास के साथ माप बंदरगाह का विस्तार करता है।

• केल्विन क्लिप के साथ परीक्षण स्थिरता का इस्तेमाल किया जात...

  एचपी 16048C में एक सीधा लगाव, 4-टर्मिनल जोड़ी प्रकार स्थिरता शामिल है जो दो बड़े, अछूता मगरमच्छ क्लिप से लैस है।

• केल्विन क्लिप लीड सेट फुर्तीला 16089A इस्तेमाल किया

  कीदृष्टि 16089A (फुर्तीला) केल्विन क्लिप एडाप्टर अजीब आकार के घटकों को मापना संभव बनाता है जिन्हें पारंपरिक फिक्स्चर के साथ मापा नहीं जा सकता है।

• प्रयुक्त स्प्रिंग क्लिप स्थिरता Agilent 16092 A

  Agilent / HP 16192 एक परीक्षण स्थिरता पक्ष इलेक्ट्रोड SMD घटकों के प्रतिबाधा मूल्यांकन के लिए बनाया गया है।

• E 4991 A Agilent E 4991 - 60011 के लिए प्रयुक्त टेस्ट हेड

  Agilent E 4991 - 60011 E 4991 एक RF प्रतिबाधा / सामग्री विश्लेषक के लिए आवश्यक टेस्ट हेड है

• प्रयुक्त कम रिसाव स्विच मेनफ्रेम एगिलेंट ई 5250 ए

  Keysight E 5250 एक कम रिसाव स्विच मेनफ्रेम एक माप माप स्टेशन को विस्तारित करता है, जैसे कि Keysight B 1500 A, 4155 C, या 4156 C, एक स्वचालित माप के लिए। प्रणाली।

• प्रयुक्त मैट्रिक्स स्विच फुर्तीला E5252A 10x12

  कीसाइट E5252A एक 10x12 मैट्रिक्स स्विच कार्ड है जो E5250A कम रिसाव स्विच मेनफ्रेम के साथ काम करता है।

• इस्तेमाल किया HPSMU फुर्तीला E5280A

  कीसाइट E5280A एक उच्च शक्ति स्रोत/माप इकाई (एचपीसीएमयू) है, जो E5270A पैरामेट्रिक माप प्रणाली मेनफ्रेम, 8-स्लॉट के साथ काम करता है ।

• B 1505 A Agilent N 1259 A के लिए प्रयुक्त टेस्ट फिक्सेचर

  Keysight N 1259 A (Agilent) टेक्स्ट फ़िक्चर मानकीकृत परीक्षण और विभिन्न सॉकेट प्रकारों की एक किस्म के परीक्षण और संगतता की अनुमति देता है, जब Keysight B {1}} A (Agilent) वक्र ट्रैसर के साथ संयोजन...